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Modellierung der katastrophalen optischen Degradation von Hochleistungslaserdioden unter externer optischer Rückkopplung, Martin Ray Adams, Maurice O. Moss, Peter McClure
- Sprache
- Erscheinungsdatum
- 2022
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- (Paperback)
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- Titel
- Modellierung der katastrophalen optischen Degradation von Hochleistungslaserdioden unter externer optischer Rückkopplung
- Sprache
- Deutsch
- Autor*innen
- Martin Ray Adams, Maurice O. Moss, Peter McClure
- Verlag
- Apprimus Verlag
- Erscheinungsdatum
- 2022
- Einband
- Paperback
- Seitenzahl
- 145
- ISBN10
- 3985550689
- ISBN13
- 9783985550685
- Reihe
- Schlagwörter
- Sachbücher, Technologie & Industrie, Elektronik & Elektrotechnik