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Refraktive Multifokusröntgenlinsen und Hartmann-Shack-Sensoren

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  • 142 Seiten
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Refraktive Röntgenlinsen (engl.: Compound Refractive X ray Lenses, CRLs) weisen eine absorptionsbegrenzte numerische Apertur auf. In dieser Arbeit wird ein Feld von CRLs mit jeweils leicht geneigten optischen Achsen verwendet, um diese Limitierung bei der Vollfeldmikroskopie an Laborquellen zu umgehen. Unter anderem wird auf die röntgentiefenlithografische Herstellung von CRLs eingegangen und parallele Felder von CRLs diskutiert (Hartmann-Shack-Wellenfrontsensor, rasternde Abbildungsverfahren). Compound refractive X-ray lenses (CRLs) have an absorption-limited numerical aperture. In this work, an array of CRLs with slightly inclined optical axes is used to circumvent this limitation in full-field microscopy at laboratory sources. Among other things, fabrication of CRLs via deep X-ray lithography and parallel fields of CRLs (Shack-Hartmann wavefront sensor, scanning imaging methods) are discussed.

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Refraktive Multifokusröntgenlinsen und Hartmann-Shack-Sensoren, Alexander Opolka

Sprache
Erscheinungsdatum
2024
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(Paperback)
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Titel
Refraktive Multifokusröntgenlinsen und Hartmann-Shack-Sensoren
Sprache
Deutsch
Autor*innen
Alexander Opolka
Erscheinungsdatum
2024
Einband
Paperback
Seitenzahl
142
ISBN13
9783731513490
Reihe
Schlagwörter
Natur
Beschreibung
Refraktive Röntgenlinsen (engl.: Compound Refractive X ray Lenses, CRLs) weisen eine absorptionsbegrenzte numerische Apertur auf. In dieser Arbeit wird ein Feld von CRLs mit jeweils leicht geneigten optischen Achsen verwendet, um diese Limitierung bei der Vollfeldmikroskopie an Laborquellen zu umgehen. Unter anderem wird auf die röntgentiefenlithografische Herstellung von CRLs eingegangen und parallele Felder von CRLs diskutiert (Hartmann-Shack-Wellenfrontsensor, rasternde Abbildungsverfahren). Compound refractive X-ray lenses (CRLs) have an absorption-limited numerical aperture. In this work, an array of CRLs with slightly inclined optical axes is used to circumvent this limitation in full-field microscopy at laboratory sources. Among other things, fabrication of CRLs via deep X-ray lithography and parallel fields of CRLs (Shack-Hartmann wavefront sensor, scanning imaging methods) are discussed.