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- 232 Seiten
- 9 Lesestunden
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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen, Peter Baumann
- Sprache
- Erscheinungsdatum
- 2023
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- (Paperback)
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- Titel
- Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
- Sprache
- Deutsch
- Autor*innen
- Peter Baumann
- Verlag
- Springer-Verlag GmbH
- Erscheinungsdatum
- 2023
- Einband
- Paperback
- Seitenzahl
- 232
- ISBN10
- 3658409568
- ISBN13
- 9783658409562
- Reihe
- Schlagwörter
- Sachbücher, Kunst & Kultur, Technologie & Industrie, Architektur, Architektur & Städtebau
- Beschreibung
- Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.