Hochauflösende Elektronenstrahllithographie für die Submikrometerstrukturierung von HTS-JosephsonkontaktenUwe HübnerAusverkauft4,3Bewachen
Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-TestgenerierungUwe HübnerAusverkauft4,3Bewachen