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Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP)

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Zum Werk Für alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt. Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen. Vorteile auf einen Blick - Schritt-für-Schritt Vorgehensweisen - Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt - Details der Punktevergabe - Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen - Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen - Tabellen als Bearbeitungshilfen - praktische Tipps für die Prüfung Zielgruppe: Für Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung.

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ISBN
9783406707896
Verlag
C.H. Beck

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2017

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