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Strukturuntersuchungen an epitaktisch abgeschiedenen SiC-Schichten

Autoren

Hans-Peter Lang

Parameter

Kategorien

Skripten & Universitätslehrbücher

Reihe: Werkstoffwissenschaften

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Strukturuntersuchungen an epitaktisch abgeschiedenen SiC-Schichten, Hans-Peter Lang

Sprache
Erscheinungsdatum: 1998

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