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Imprint: an important failure mechanism of ferroelectric thin films in view of memory applications

Autoren

Michael Großmann

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Skripten & Universitätslehrbücher

Reihe: Fortschrittberichte VDI : Reihe 9, Elektronik, Mikro- und Nanotechnik

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Imprint: an important failure mechanism of ferroelectric thin films in view of memory applications, Michael Großmann

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Erscheinungsdatum: 2001

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