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Einsatz räumlicher Lichtmodulatoren zur Defekt- und Mustererkennung

Autoren

Tobias Haist

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Skripten & Universitätslehrbücher

Reihe: Berichte aus dem Institut für Technische Optik

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Einsatz räumlicher Lichtmodulatoren zur Defekt- und Mustererkennung, Tobias Haist

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Erscheinungsdatum: 2002

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