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Full-band Monte Carlo simulation of electrons and holes in strained Si and SiGe

Autoren

Fabian M. Bufler

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Kategorien

Skripten & Universitätslehrbücher

Reihe: Elektrotechnik

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Full-band Monte Carlo simulation of electrons and holes in strained Si and SiGe, Fabian M. Bufler

Sprache
Erscheinungsdatum: 1998

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