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Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie an den kristallin-amorphen Grenzflächen c-Si/a-Ge und c-Si/a-SiO2

Autoren

Boris Plikat

Parameter

ISBN: 9783897122369
Verlag: Cuvillier

Kategorien

Skripten & Universitätslehrbücher

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1998

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