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Scanning tunneling potentiometry at nanoscale defects in thin films
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Scanning tunneling potentiometry at nanoscale defects in thin films
Autoren
Felix Lüpke
Parameter
ISBN
9783958063617
Verlag
Forschungszentrum Jülich GmbH
Kategorien
Physik
Schriften des Forschungszentrums Jülich : [...], Reihe Schlüsseltechnologien
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