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Dreidimensionale Analyse elektronischer Bauelemente mit Multigrid-Verfahren unter Verwendung einer Binärbaum-Datenstruktur

Autoren

Peter J. Conradi

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Kategorien

Skripten & Universitätslehrbücher

Reihe: Fortschrittberichte VDI : Reihe 9, Elektronik, Mikro- und Nanotechnik

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Dreidimensionale Analyse elektronischer Bauelemente mit Multigrid-Verfahren unter Verwendung einer Binärbaum-Datenstruktur, Peter J. Conradi

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Erscheinungsdatum: 1992

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