Untersuchung von Isolierstoffen unter impulsförmiger elektrischer Beanspruchung

Die vorliegende Arbeit verfolgt unter der Motivation, dass es durch die Zunahme von Leistungselektronik vermehrt zu einer neuen Art der elektrischen Spannungsbeanspruchung in Isoliersystemen mit ungeklärten Langzeitauswirkungen kommt, das Ziel, einen Beitrag zur Klärung der Auswirkungen dieser Beanspruchungen zu leisten. Nach Einleitung in das Thema erfolgt die Behandlung des Phänomens der Alterung und Lebensdauer von Isolierstoffen, bevor auf die Charakteristik von impulsförmigen Spannungen eingegangen wird. Neben der Vorstellung von Stoßspannungen wird auf, an mit Leistungshalbleitern ausgestatteten Umrichtern auftretende, Spannungsimpulse eingegangen. Es erfolgt neben den verwendeten Probekörpern eine Vorstellung der zur Untersuchung genutzten Systeme und Anlagen, die vorwiegend aus dem Gebiet der Hochspannungstechnik stammen und auch Komponenten aus der Leistungselektronik (Stichworte: IGBT und CMOS) beinhalten. Im Mittelteil der Arbeit wird das Verfahren der Untersuchung, Alterung und Konditionierung der Probekörper mit Hilfe der Anlagentechnik beschrieben. Dabei wird auf Untersuchungen zur Bestimmung von Teilentladungseinsetzspannung, Isolationswiderstand, dielektrischen Werten und Durchschlagspannungsfestigkeit eingegangen, sowie die Konditionieren der Proben in zwei verschiedenen Halbleiteranlagen eingegangen. Zu Ende der Arbeit werden die erzielten Ergebnisse in Form von Diagrammen präsentiert und gedeutet.