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Integration and characterization of atomic layer deposited TiO2 thin films for resistive switching applications

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Marcel Reiners

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Skripten & Universitätslehrbücher

Reihe: Schriften des Forschungszentrums Jülich : [...], Reihe Information

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Integration and characterization of atomic layer deposited TiO2 thin films for resistive switching applications, Marcel Reiners

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Erscheinungsdatum: 2014

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